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1.
新型电子元器件检测 已借8次.
著者: 吴桂秀
出版社: 浙江科学技术出版社   出版日期: 2005
文献类型: 图书 , 索书号: TN606/60-42
2.
著者: 吴桂秀
出版社: 浙江科学技术出版社   出版日期: 2004
文献类型: 图书 , 索书号: TP212/60-42
3.
著者: 吴桂秀
出版社: 浙江科学技术出版社   出版日期: 2001
文献类型: 图书 , 索书号: TM938.107/6042
4.
著者: 吴桂秀
出版社: 中国计量出版社   出版日期: 1986.6
文献类型: 图书 , 索书号: TB9/60-42
5.
出版社: 浙江科学技术出版社   出版日期: 2000.3
文献类型: 图书 , 索书号: TN79/6042